Pro
Início / Remuneração de servidores públicos / Remuneração de servidores federais / Quanto ganha um servidor do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Quanto ganha um servidor do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Período ago/2026Fonte portaldatransparencia.gov.brEsfera FederalAtualizado em Pro Abrir por cargo e mês

Bruta média
R$ 18.865,98
Bruta mediana
R$ 20.974,49
Servidores civis
712
Mediana vs. jul/2026
igual

Remuneração / Federal / Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Em ago/2026, os servidores civis do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia tiveram remuneração bruta média de R$ 18.865,98 e mediana de R$ 20.974,49, entre 712 registros publicados pelo Portal da Transparência do Governo Federal (Servidores SIAPE).

De jul/2026 para ago/2026 a mediana não mudou: segue em R$ 20.974,49 entre os servidores civis do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia. O portal federal publica a remuneração básica, que é valor de tabela e só muda com reajuste — gratificações e pagamentos eventuais, que variam todo mês, não entram nesta conta. O número de registros caiu em 4.

Faixa de remuneração

A faixa vai do P10 (R$ 11.488,00) ao P90 (R$ 26.157,57): entre os servidores civis do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, no máximo um em cada dez recebe menos que o primeiro valor, e no máximo um em cada dez recebe mais que o segundo. O retângulo é a metade do meio — do P25 ao P75 — e o traço é a mediana. Tudo em remuneração bruta, antes dos descontos.

Cargos mais comuns

CargoServidoresBruta média
Pesquisador Tecn Metrol Qualid375R$ 21.675,72
Analista Exec em Metrologia e Qualidade167R$ 19.143,77
Tec em Metrologia e Qualidade98R$ 11.688,56
Assist Exec em Metrol e Qualidade54R$ 12.276,64
Sem Informaç11R$ 16.254,27
Aux Exec em Metrologia e Qualidade3R$ 3.676,45
Especialista em Metrologia e Qualidade3R$ 26.455,28
Tecnologista1R$ 26.950,43

Quer buscar um cargo específico ou outro órgão?

Buscar no Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia →